激光测径仪原理-激光测径仪安装示意图

      测径仪大至分激光扫描测径仪，CCD投影测径仪，激光衍射测径仪，其中前两者都属光学的几何原理，后者为利用光学的波动原理。

　　激光扫描测径仪，这也是用得较多的一种，在国外以beta公司开发较早，而国内以辉煌测控公司和明锐科技开发相关设备较早。CCD投影测量径仪，由于电机速度毕竟有限，而且扫描的平行光带不太容易保证，再加上现在平行光管与CCD的技术的发展，现在很多企业开始采用CCD成像法测量直径，在国内以上海欧勒在这方面做得较早，其光源采用波长较长的红外光，抗干扰较强，由于少了许多机械件，所以设备较稳定可靠，但CCD成像受相素的制约，在精度上不太容易拓展，特别是大直径的物体测量，但又不能太细，太细会有扫描测径仪相同的问题。